Сенсор с разрешением 1024 x 1 пиксель GIR1201 выполнен на основе квадратного пикселя размером 12,5 мкм с кадровым затвором. Оснащен 12-битным АЦП и обеспечивает динамический диапазон 72 дБ. GIR1201 поддерживает два режима работы: высокий коэффициент усиления (HG) с максимальной глубиной потенциальной ямы 120 ke‾ и шумом считывания 80 e‾; низкий коэффициент усиления (LG) с глубиной потенциальной ямы 1,6 Me‾, шум считывания 400 e‾. Для передачи данных используются две пары интерфейсов Sub-LVDS с максимальной скоростью 1,68 Гбит/с, что позволяет достичь максимальную скорость съемки 71,9 кГц.
GIR1201 и GIR2505 используют стандартную в отрасли технологию InGaAs для максимальной чувствительности к длинам волн SWIR, а также одинаковый 64-контактный DIP-корпус для легкой интеграции.
Вторая новинка – сенсор GIR2505 с разрешением 512 x 2 пикселей, выполнен на основе квадратного пикселя размером 25 мкм с кадровым затвором. Оснащен 12-битным АЦП и обеспечивает динамический диапазон 70 дБ. Поддержка двух режимов работы: с высоким коэффициентом усиления (HG) с максимальной глубиной потенциальной ямы 85 ke‾ и шумом считывания 116 e‾; и с низким коэффициентом усиления (LG) с глубиной потенциальной ямы 1,6 Me‾ и шумом считывания 450 e‾. Для передачи данных используются две пары интерфейсов Sub-LVDS с максимальной скоростью 1,68 Гбит/с, что позволяет достичь частоты кадров до 40,4 кГц.
Фоточувствительная область GIR1201 составляет 12,8 мм x 12,5 мкм, GIR2505 – 12,8 мм x 25 мкм. Сенсоры установлены в 64-контактный DIP с размером корпуса 57,4 x 18,9 мм. Энергопотребление сенсоров составляет менее 450 мВт на максимальной скорости.
Пиковая квантовая эффективность (QE) 75% на длине волны 1550 нм
Камеры линейного сканирования SWIR используются для решения задач в областях промышленности и науки благодаря своей способности обнаруживать особенности, невидимые в видимом или ближнем инфракрасном диапазонах. В пищевой промышленности, сельском хозяйстве и фармацевтике SWIR идеально подходит для определения содержания влаги. В переработке и сортировке материалов SWIR может различать различные типы пластика и отделять органические материалы от неорганических. Контроль полупроводников выигрывает от способности SWIR видеть сквозь кремний, что позволяет обнаруживать внутренние дефекты. В сельском хозяйстве визуализация SWIR может оценивать спелость или обнаруживать вмятины под кожурой фруктов и овощей. Она также используется в фармацевтическом контроле качества для проверки таблеток и однородности покрытия, а также в инспекции полотна и поверхности непрерывных материалов, таких как текстиль, бумага или пленки, где она выделяет дефекты и изменения в покрытиях или структуре. Линейные сканирующие устройства, чувствительные в SWIR, также применяются в оптической когерентной томографии (ОКТ), особенно – для неразрушающего контроля кремниевых пластин и других полупроводниковых материалов.
Инженерные образцы доступны для заказа уже сейчас. Для получения дополнительной информации пишите нам на почту info@npk-photonica.ru или звоните по номеру +7 (812) 209-20-20.
